Determination of band alignments at 2D tungsten disulfide/high-k dielectric oxides interfaces by x-ray photoelectron spectroscopy
发布时间：2023-04-04
点击次数：
- 影响因子：
- 7.39
- 发表刊物：
- Applied Surface Science
- 备注：
- Zhou Changjie,Zhu Huili,Pan Shaobin,Zheng Tongchang,Huang Xiaojing,Lin Qiubao,Yang Weifeng,
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2020-01-01
