Record RF Performance of Ultra-thin Indium Oxide Transistors with Buried-gate Structure
发布时间：2023-04-04
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- 发表刊物：
- IEEE Device Research Conference
- 备注：
- A Charnas, J Anderson, J Zhang, D Zheng, D Weinstein and P. D. Ye
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2022-01-01
