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论文成果

B. S. Xiao, X. L. Li, Y. H. Lin, and Y. Zhang, “Design and application of an IC chip test instrument based on HT46RU24”, 2021 International Symposium on Computer Technology and Information Science (ISCTIS), Jun. 2021.

发布时间:2025-02-19
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发布期刊链接:
https://ieeexplore.ieee.org/document/9603689

厦门大学


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