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Research Direction
围绕低维材料的制备与物性研究,采用分子束外延(MBE)、化学气相沉积(CVD)和机械剥离等方法,制备不同厚度与结构的低维材料及其异质结构。综合运用扫描隧道显微镜及隧道谱(STM/STS)、角分辨光电子能谱(ARPES)和电输运测量,从原子尺度的局域电子态、动量空间的能带结构以及器件尺度的电学响应三个层面开展互补研究,建立材料结构、电子态与物理性质之间的联系,探索维度、界面、缺陷及外场对低维量子物态的影响与调控。